Центр по диагностике твердофазных
химических реакций
Центр работает при Московском государственном
университете им. М.В.Ломоносова (Химический
факультет, Высший колледж-факультет наук о
материалах) и Институте общей и неорганической
химии им. Н.С.Курнакова РАН и включает три
отделения:
1)Отделение изучения поверхностных свойств
твердофазных реагирующих систем- (электронная
микроскопия, масспектрометрия вторичных ионов,
Оже-спектроскопия);
2)Отделение исследования твердофазных
химических реакций дифракционными и магнитными
методами;
3) Отделение изучения кинетики твердофазных
химических реакций.
При Центре регулярно проводятся научные
семинары по методологии диагностики
твердофазных химических реакций.
Центр выполняет следующие исследования:
1) Отделение изучения поверхностных свойств
твердофазных реагирующих систем- (электронная
микроскопия, масспектрометрия вторичных ионов,
оже-спектроскопия):
- Просвечивающая электронная микроскопия,
разрешение по точкам 0.5 нм, по линиям решетки 0.3 нм
(увеличение до х800000), возможна работа с
охлаждением образца до 77К; - электронная
дифракция, ускоряющее напряжение 200 кВ, диаметр
выделяемой области 0.1 - 0.5 мкм, дифракция в
сходящемся пучке - радиус пучка 10 нм, диапазон
поворота гониометра - -27 +27 град., диапазон
наклона образца -20 - +20 град.
- Растровая электронная микроскопия, разрешение
до 10 нм (увеличение до х800000), максимальный размер
образца 10 х 4 х 1.5 мм.
- Качественный анализ состава органических и
неорганических образцов (лазерная
масс-спектрометрия). Диапазон исследования по
массовому числу–до 700.
- Количественный анализ состава проводящих
неорганических образцов (масс-спектрометрия
вторичных нейтралей).
- Исследование профиля концентрации компонентов
по глубине.
- Элементный анализ состава поверхности твердых
тел : тонких пленок, кристаллов, порошков,
керамики, гетероструктур, высокодисперсных
материалов;
- Количественный анализ , послойный анализ
приповерхностных слоев, локальный анализ,
исследование диффузии, исследование
взаимодействия пленка-подложка, исследование
электронного состояния атомов (химсдвиг);
- Электронная сканирующая микроскопия
(поглощенные и отраженные электроны,
оже-электроны конкретного элемента);
- Исследование механизма и кинетики
топохимических реакций.
2) Отделение исследования твердофазных
химических реакций дифракционными и магнитными
методами:
- Cъемка лауэграмм и определение параметров
элементарной ячейки по монокристальным данным
(камеры РКОП и РКУ), съемка изображений обратной
решетки (камера КФОР) и определение
пространственной симметрии кристалла;
- Определение параметров элементарной ячейки,
качественный и количественный рентгенофазовый
анализ с использованием рентгеновских
порошковых данных (трехкадровые
камеры-монохроматоры Гинье, порошковый
дифрактометр STADI-P);
- Определение параметров элементарной ячейки и
съемка эксперимента для расчета кристаллической
структуры по монокристальным данным
(дифрактометр CAD4-F);
- Уточнение кристаллической структуры методом
Ритвелда с использованием данных порошковой
рентгеновской дифракции;
- Определение комплексной магнитной
восприимчивости образцов в интервале температур
12-290 К при амплитуде переменного магнитного поля
0,1-100 Эрстед и частоте 27 Гц;
- Определение температуры перехода в
сверхпроводящее состояние, оценка объемного
содержания сверхпроводящей фазы, определение
плотности критического тока в керамике,
покрытиях и тонких пленках;
- Определение температуры Кюри, оценка магнитной
проницаемости ферро- и ферримагнетиков;
3) Отделение изучения кинетики твердофазных
химических реакций.
- Определение качественного и количественного
состава твердофазных образцов методом
рентгенофлуоресцентного анализа;
- Исследование кинетики твердофазных химических
реакций термогравиметрическим методом.
Адрес Центра:
119899, Москва, Ленинские горы, МГУ, химический
факультет,
кафедра неорганической химии
телефон: (095) 9395742
факс: (095) 9390998
E-mail: churagulov@inorg.chem.msu.ru
Заявки на проведение работ подаются на имя
руководителя Центра академика РАН Ю.Д.Третьякова
(МГУ, химфак, кафедра неорганической химии) с
указанием задач диагностики и особенностей
образцов.
Заявки на диагностику образцов методами:
- оже-электронной спектроскопии рассматриваются Гаськовым
Александром Михайловичем (МГУ, 9395471);
- масспектрометрии вторичных ионов – Трофименко
Евгением Александровичем (МГУ, 9395931);
- электронной микроскопии – Путляевым
Валерием Ивановичем (МГУ, 9391034);
- рентгеновской дифракции – Путилиным
Сергеем Николаевичем (МГУ, 9393375);
- определения магнитных свойств – Казиным
Павлом Евгеньевичем (МГУ, 9393440);
- рентгенофлуоресцентного анализа – Кецко
Валерием Александровичем (ИОНХ, 9554871); -
термогравиметрии - Кецко Валерием
Александровичем (ИОНХ, 9554871).
Заявки руководителей проектов, финансируемых
РФФИ, выполняются бесплатно.
